Control and analysis of leakage currents in poly-Si thin-film transistors

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标题	Control and analysis of leakage currents in poly-Si thin-film transistors 多晶硅薄膜晶体管漏电流的控制与分析相关领域材料科学薄膜晶体管泄漏（经济）量子隧道晶体管阈下传导光电子学热传导电气工程凝聚态物理电压纳米技术复合材料物理经济宏观经济学工程类图层（电子）
网址	https://doi.org/10.1063/1.360869
DOI	10.1063/1.360869 doi
其它	期刊：Journal of Applied Physics 作者：S. D. Brotherton; J. R. Ayres; M. J. Trainor 出版日期：1996-01-15
求助人	花花猪1989 在 2025-06-14 16:18:47 发布自北京，悬赏 10 积分
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