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 Characterization of channel temperature in Ga2O3 metal-oxide-semiconductor field-effect transistors by electrical measurements and thermal modeling Ga2O3金属氧化物半导体场效应晶体管沟道温度的电学测量和热模拟表征
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Man Hoi Wong; Yoji Morikawa; Kohei Sasaki; Akito Kuramata; Shigenobu Yamakoshi; et al 出版日期：2016-11-07 |
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