| 标题 |
2D MoS2 Charge Injection Memory Transistors Utilizing Hetero‐Stack SiO2/HfO2 Dielectrics and Oxide Interface Traps |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Advanced Electronic Materials 作者:Livia Janice Widiapradja; Taewook Nam; Yeonsu Jeong; Hye‐Jin Jin; Yangjin Lee; et al 出版日期:2021-03-30 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)