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 Development of accurate on-wafer, cryogenic characterization techniques 开发精确的晶圆上低温表征技术
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期刊：IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 作者：J. Laskar; J. J. Bautista; M. Nishimoto; M. Hamai; R. Lai 出版日期：1996-07-01 |
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