| 标题 |
 Development of accurate on-wafer, cryogenic characterization techniques 开发精确的晶圆上低温表征技术
相关领域
高电子迁移率晶体管
低温学
光电子学
材料科学
放大器
薄脆饼
散射参数
噪音（视频）
低噪声放大器
噪声温度
晶体管
物理
电子工程
电气工程
相位噪声
工程类
计算机科学
CMOS芯片
电压
人工智能
图像（数学）
量子力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 作者：J. Laskar; J. J. Bautista; M. Nishimoto; M. Hamai; R. Lai 出版日期：1996-07-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
浮游
GingerF
Criminology34
归尘
浮浮世世
yyds
大大鱼
清爽老九
殷勤的紫槐
hanawang
null
wxyshare
莫名是个小疯子
ccczzz
从容芮
Magali
馆长
wop111
彩虹儿
唐泽雪穗
electricelectric
Aimee
cosmos
不配.
Li
Owen
一念
eric888
皖公网安备34019202002308
