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 The Characteristics and Reliability With Channel Length Dependent on the Deposited Sequence of SiO2 and Si3N4 as PV in LTPS TFTs 相关领域
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期刊：IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者：Chuan-Wei Kuo; Tsung‐Ming Tsai; Ting‐Chang Chang; Hong‐Yi Tu; Yu‐Hsiang Tsai; et al 出版日期：2024-04-01 |
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