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Reduction of plasma induced damage in an inductively coupled plasma using pulsed source power 利用脉冲源功率减少电感耦合等离子体中的等离子体诱导损伤
相关领域
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期刊:Journal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures Processing Measurement and Phenomena 作者:Seiji Samukawa; Ko Noguchi; Jennifer Colonell; K. H. A. Bogart; M. V. Malyshev; et al 出版日期:2000-03-01 |
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