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 Investigation of the Development of the Microcrack Structure in Scratch Tests with Single Diamond Particles on Monocrystalline Silicon Wafers 相关领域
单晶硅
材料科学
薄脆饼
硅
钻石
刮擦
光电子学
工程物理
纳米技术
冶金
复合材料
工程类
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期刊：29th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition 作者：H.J. Möller; S. Retsch; Rajko Buchwald; Sindy Würzner 出版日期：2014-11-07 |
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