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 A multi-parameter fitting method based on matrix transformation for device aging modeling 基于矩阵变换的器件老化建模多参数拟合方法
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Qianqian Sang; Xinhuan Yang; Jianyu Zhang; Chuanzheng Wang; Mingyan Yu; et al 出版日期：2023-01-25 |
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