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 Assessment of Trap Sensitivity in Dual Material Gate Nano-Ribbon FET for Different Gate Dielectric Materials 不同栅介质材料的双材料栅纳米带场效应晶体管陷阱灵敏度的评估
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期刊：ECS Journal of Solid State Science and Technology 作者：Rajesh Saha; Shashank Rai; Brinda Bhowmick 出版日期：2024-12-02 |
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