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 Third-Eigenmode Atomic Force Microscopy for Resolving Solvation Structures and Structural Defects in Organic Semiconductor Films under Ambient Conditions 相关领域
有机半导体
材料科学
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期刊：ACS Nano 作者：Georgios Atsas; Alba Cazorla; Félix Devaux; Christian Ruzié; Yves Henri Geerts; et al 出版日期：2026-10-31 |
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