| 标题 |
 Depth-distribution of resistivity within ion-irradiated semiconductor layers revealed by low-kV scanning electron microscopy 低kV扫描电子显微镜揭示离子辐照半导体层内电阻率的深度分布
相关领域
材料科学
辐照
扫描电子显微镜
掺杂剂
电阻率和电导率
分析化学（期刊）
离子
拉曼光谱
通量
兴奋剂
光致发光
光电子学
光学
复合材料
化学
工程类
物理
有机化学
色谱法
核物理学
电气工程
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Materials Science in Semiconductor Processing 作者：I. Jóźwik; J. Jagielski; P. Ciepielewski; E. Dumiszewska; Karolina Piętak; et al 出版日期：2023-06-07 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
Kao
Copyright
嘻嘻哈哈
OK
lili
迷人的天抒
学术文献互助
不潮薯饼
竹青
路豐遙
GingerF
Raftaar
Criminology34
haijun
LL
Nole
星野
清平道人
MchemG
skearthy
皖公网安备34019202002308
