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 A single-loop Kriging model coupled with cross-entropy importance sampling for time-variant reliability analysis of rare events 罕见事件时变可靠性分析的单环Kriging模型与交叉熵重要性抽样耦合
相关领域
克里金
可靠性（半导体）
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期刊：Journal of the Brazilian Society of Mechanical Sciences and Engineering 作者：Chenrong Pan; Congyi Zha; J.S. Tang 出版日期：2025-07-10 |
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(2025-6-4)
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