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A virtual defect metrology system utilizing photolithography scanner topography maps to quantitatively detect gross defects, perform in-line yield prediction, and identify defect generating tools 一种虚拟缺陷计量系统,利用光刻扫描仪形貌图定量检测总缺陷、执行在线产量预测和识别缺陷产生工具
相关领域
计量学
光刻
扫描仪
计算机科学
直线(几何图形)
产量(工程)
人工智能
纳米技术
材料科学
数学
统计
几何学
冶金
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| 其它 |
期刊: 作者:Prasenjit Bose; Vishal K. Pandey; Michael Staib; Bret Womach; Itamar Balla; et al 出版日期:2025-04-24 |
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