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 Energy band alignment at interfaces of semiconducting oxides: A review of experimental determination using photoelectron spectroscopy and comparison with theoretical predictions by the electron affinity rule, charge neutrality levels, and the common anion rule 半导体氧化物界面能带排列：光电子能谱实验测定的综述以及与电子亲和规则、电荷中性能级和公共阴离子规则理论预测的比较
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期刊：Thin Solid Films 作者：Andreas Klein 出版日期：2011-10-31 |
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