| 标题 |
Structural and electrical evolution of gate dielectric breakdown observed by conductive atomic force microscopy 用导电原子力显微镜观察栅介质击穿的结构和电学演化
相关领域
小丘
材料科学
极性反转
极性(国际关系)
导电原子力显微镜
基质(水族馆)
晶体管
导电体
压力(语言学)
凝聚态物理
静电力显微镜
光电子学
原子力显微镜
化学
复合材料
纳米技术
电气工程
电压
物理
海洋学
哲学
工程类
生物化学
地质学
细胞
语言学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Applied Physics Letters 作者:Li Zhang; Yuichiro Mitani 出版日期:2006-01-16 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)