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 Abnormal Two-Stage Degradation on P-Type Low-Temperature Polycrystalline-Silicon Thin-Film Transistor Under Hot Carrier Conditions 相关领域
跨导
材料科学
薄膜晶体管
阈值电压
多晶硅
硅
晶体管
负偏压温度不稳定性
光电子学
电气工程
凝聚态物理
电压
纳米技术
物理
工程类
图层（电子）
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| 其它 |
期刊：IEEE Electron Device Letters 作者：Hong‐Yi Tu; Ting‐Chang Chang; Yu‐Ching Tsao; Mao‐Chou Tai; Yu‐Zhe Zheng; et al 出版日期：2022-03-14 |
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