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  Large refractive index changes in ZIF-8 thin films of optical quality 相关领域
折射率
材料科学
薄膜
光电子学
硅
多孔性
多孔硅
光学
纳米技术
复合材料
物理
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期刊：RSC Advances 作者：Nils Christian Keppler; Karen D. J. Hindricks; Peter Behrens 出版日期：2022-01-01 |
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