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 Comparison of Single-Event Transients in an Epitaxial Silicon Diode Resulting From Heavy-Ion-, Focused X-Ray-, and Pulsed Laser-Induced Charge Generation 重离子、聚焦X射线和脉冲激光诱导电荷产生导致的外延硅二极管中单事件瞬态的比较
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期刊：IEEE Transactions on Nuclear Science 作者：Kaitlyn L. Ryder; Landen D. Ryder; Andrew L. Sternberg; John A. Kozub; En Xia Zhang; et al 出版日期：2021-02-20 |
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平常的凛
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