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Photoluminescence Imaging for Defect Mapping and Quality Control of Al-Polar AlN Substrates |
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期刊:ECS Journal of Solid State Science and Technology 作者:Zachary W. Hargus; Katharina V. Loske; Sihang Hui; Shubham Ravan; Thomas J. Graves; et al 出版日期:2026-07-18 |
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(2025-6-4)