| 标题 |
Beam-Induced Damage to Thin Specimens in an Intense Electron Probe |
| 网址 | |
| DOI |
10.1017/s1431927606060065
doi
|
| 其它 |
期刊:Microscopy and Microanalysis 作者:Raymond F. Egerton; Feng Wang; Peter A. Crozier 出版日期:2005-12-09 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)