Semantic Segmentation-Based Wafer Map Mixed-Type Defect Pattern Recognition

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标题	Semantic Segmentation-Based Wafer Map Mixed-Type Defect Pattern Recognition
网址	http://dx.doi.org/10.1109/tcad.2023.3274958
DOI	10.1109/tcad.2023.3274958 doi
其它	期刊：IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 作者：Jinda Yan; Yi Sheng; Minghao Piao 出版日期：2023-11-01
求助人	科研小狗在 2026-08-13 20:28:48 发布自陕西，悬赏 10 积分
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