Design of a Programmable Delay Line with On-Chip Calibration to Achieve Immunity Against Process Variations

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标题	Design of a Programmable Delay Line with On-Chip Calibration to Achieve Immunity Against Process Variations
网址	https://doi.org/10.1007/978-3-031-21514-8_34
DOI	10.1007/978-3-031-21514-8_34 doi
其它	期刊：VLSI Design and Test 作者：Kanika Monga; Eesha Karnawat; Nitin Chaturvedi; S. Gurunarayanan 出版日期：2022
求助人	疯狂的慕灵在 2026-05-12 11:24:51 发布自浙江，悬赏 10 积分
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