| 标题 |
In Depth Study of Ge Impact on Advanced SiGe PMOS Transistors |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:ECS Meeting Abstracts 作者:Assawer Soussou; Mikael Cassé; Gilles Reimbold; Charles Leroux; François Andrieu; et al 出版日期:2014 |
| 求助人 | |
| 下载 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)