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 Recombination behavior and contact resistance of n+ and p+ poly-crystalline Si/mono-crystalline Si junctions 相关领域
材料科学
氧化物
接触电阻
等效串联电阻
平面的
硅
开路电压
重组
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计算机科学
冶金
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期刊：Solar Energy Materials and Solar Cells 作者：Udo Römer; Robby Peibst; Tobias Ohrdes; Bianca Lim; Jan Krügener; et al 出版日期：2014-06-26 |
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