| 标题 |
 Generalized ellipsometry for the characterization of anisotropic materials: influence of the sample adjustment on the extracted optical indices 相关领域
偏振器
倾斜（摄像机）
光学
椭圆偏振法
光轴
各向异性
材料科学
方位角
各向同性
振幅
样品（材料）
波长
频谱分析仪
振荡（细胞信号）
折射率
物理
双折射
化学
数学
薄膜
镜头（地质）
纳米技术
热力学
生物化学
几何学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Thin Solid Films 作者：P. Boher; J.P. Piel; B. Sacépé 出版日期：2004-05-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人或该文件上传人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
嘻嘻哈哈
null
369ninja
GingerF
学霸业
zyh
情绪稳定
v0id
吃葡萄不吐葡萄皮
学术文献互助
Elsevier大王
Maestro_S
华无剑
OK
无极微光
Gp1983
学术雷锋
ket
Criminology34
奔跑
皖公网安备34019202002308
