| 标题 |
  Deep open-set recognition for silicon wafer production monitoring 用于硅片生产监控的深度开集识别
相关领域
薄脆饼
人工智能
计算机科学
集合（抽象数据类型）
开放集
硅
生产（经济）
模式识别（心理学）
计算机视觉
材料科学
光电子学
数学
离散数学
宏观经济学
经济
程序设计语言
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Pattern Recognition 作者：Luca Frittoli; Diego Carrera; Beatrice Rossi; Pasqualina Fragneto; Giacomo Boracchi 出版日期：2021-12-07 |
| 求助人 |
早日暴富
在
2025-08-28 20:03:01 发布，悬赏 10 积分
|
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
WenyuChen
xjcy
不想干活
爱静静
热心市民小红花
子车茗
Meyako
核桃
小青椒
8R60d8
Zoo
xzy998
不配.
不安青牛
期待未来的自己
CAOHOU
null
一叶知秋
MMMMM
yufanhui
皖公网安备34019202002308
