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 On the impact of carbon-doping on the dynamic Ron and off-state leakage current of 650V GaN power devices 碳掺杂对650V GaN功率器件动态Ron和关态漏电流的影响
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期刊： 作者：P. Moens; P. Vanmeerbeek; Abhishek Banerjee; J. Guo; C. Liu; et al 出版日期：2015-05-01 |
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