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  Review on Radiation Hardness Assurance by Design, Process and NextGen Devices 设计、工艺和下一代器件的辐射硬度保证综述
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期刊：Journal of Physics Conference Series 作者：C.S. Rao; Ameet Chavan 出版日期：2021-05-01 |
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九命鼠鼠
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