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 An overview of interferometric metrology and NDT techniques and applications for the aerospace industry 航空航天工业干涉计量和无损检测技术及应用概述
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期刊：Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE 作者：Marc Georges; Cédric Thizy; Fabian Languy; Jean-François Vandenrijt 出版日期：2016-08-28 |
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