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Effect of substrate thinning on heavy ion induced single event effect in silicon carbide power junction barrier Schottky diodes 衬底减薄对碳化硅功率结势垒肖特基二极管中重离子诱导单粒子效应的影响
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Shiwei Zhao; Xinkun Yan; Yuzi Liu; Peipei Hu; Q.Y. Chen; et al 出版日期:2023-10-01 |
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