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Transistor-Level Radiation Hardening by Design Techniques in Complex Gates 复杂栅极设计技术的晶体管级抗辐射
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期刊:Journal of Circuits Systems and Computers 作者:Bruno T. Ferraz; Henrique Kessler; Vinícius Valduga de Almeida Camargo 出版日期:2022-09-30 |
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