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 Radiation Hardness of Modern Photogate Pixels Under Total Ionizing Dose: Impact of Pixel Pitch and Electron or Hole Collection 相关领域
电离辐射
辐射硬化
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物理
材料科学
光学
辐照
核物理学
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期刊：IEEE Transactions on Nuclear Science 作者：Victor Malherbe; Olivier Nier; S. Moindjie; Philippe Roché; F. Roy; et al 出版日期：2024-07-10 |
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