| 标题 |
 Surface damage induced by focused-ion-beam milling in a Si/Si p–n junction cross-sectional specimen 相关领域
无定形固体
材料科学
聚焦离子束
透射电子显微镜
离子铣床
离子
分析化学（期刊）
离子束
复合材料
结晶学
纳米技术
图层（电子）
化学
色谱法
有机化学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Applied Surface Science 作者：Zhouguang Wang; Takeharu Kato; Tsukasa Hirayama; Naoko Kato; Katsuhiro Sasaki; Hiroyasu Saka 出版日期：2005 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
smottom
无极微光
带头大哥
Twonej
蓝天
Wanfeng
Singularity
专注的问寒
小青椒
pcr163
wy.he
ilihe
tuanheqi
机灵柚子
null
个性的紫菜
殷勤的紫槐
GingerF
沉默的倔驴
8R60d8
科妍通AI2_1
Criminology34
old赵
快乐滑板
皖公网安备34019202002308
