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 Investigation of physical properties of Si crystallites in W/Si multilayers 相关领域
掠入射小角散射
材料科学
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期刊：Journal of Applied Crystallography 作者：Н. И. Чхало; С. А. Гарахин; N. Kumar; K. V. Nikolaev; В. Н. Полковников; et al 出版日期：2022-10-27 |
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