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Direct observation of amorphous to crystalline phase transitions in Ge–Sb–Te thin films by grazing incidence X-ray diffraction method 相关领域
材料科学
无定形固体
结晶
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结晶学
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期刊:Journal of Materials Science Materials in Electronics 作者:S. A. Kozyukhin; Ilja I. Nikolaev; Petr Lazarenko; G. A. Valkovskiy; Oleg Konovalov; et al 出版日期:2020-05-24 |
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