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 Annealing-dependent changes in the structural and electrical properties of NiO epitaxial films NiO外延膜结构和电学性质的退火相关变化
相关领域
退火（玻璃）
电阻率和电导率
非阻塞I/O
材料科学
分析化学（期刊）
外延
蓝宝石
矿物学
地质学
化学
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激光器
光学
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物理
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色谱法
量子力学
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期刊：Semiconductor Science and Technology 作者：Bhabani Prasad Sahu; Santosh Kumar Yadav; Subhabrata Dhar 出版日期：2022-08-04 |
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