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![]() NiO外延膜结构和电学性质的退火相关变化
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期刊:Semiconductor Science and Technology 作者:Bhabani Prasad Sahu; Santosh Kumar Yadav; Subhabrata Dhar 出版日期:2022-08-04 |
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2025-08-19 00:58:12 发布,悬赏 10 积分
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