| 标题 |
In Situ TEM Imaging of Defect Dynamics under Electrical Bias in Resistive Switching Rutile-TiO2 |
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| DOI |
10.1017/s1431927614013555
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期刊:Microscopy and Microanalysis 作者:Ranga J. Kamaladasa; Abhishek A. Sharma; Yu-Ting Lai; Wenhao Chen; Paul A. Salvador; et al 出版日期:2014-12-22 |
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