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![]() 用于高灵敏度缺陷检测、介电常数和接近度测量的基于阶跃阻抗分流短截线的透射模式相变平面微波传感器
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期刊:IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 作者:Xavier Canalías; Paris Vélez; Pau Casacuberta; Lijuan Su; Ferran Martı́n 出版日期:2024-07-26 |
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