High-resolution interferometry and electronic speckle pattern interferometry applied to the thermomechanical study of a MOS power transistor

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标题	High-resolution interferometry and electronic speckle pattern interferometry applied to the thermomechanical study of a MOS power transistor
网址	https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S002626929...
DOI	10.1016/s0026-2692(99)00074-9 doi
其它	期刊：Microelectronics Journal 作者：K. Nassim; L. Joannes; A. Cornet; S. Dilhaire; E. Schaub; et al 出版日期：1999-11-01
求助人	apeng 在 2026-07-09 16:35:29 发布自日本，悬赏 10 积分
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