| 标题 |
Training a Neural Network on Analog TaOx ReRAM Devices Irradiated With Heavy Ions: Effects on Classification Accuracy Demonstrated With CrossSim |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:IEEE Transactions on Nuclear Science 作者:R. B. Jacobs-Gedrim; D. R. Hughart; S. Agarwal; G. Vizkelethy; E. S. Bielejec; et al 出版日期:2019-01-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)