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 Size effect on Raman measured stress and strain induced phonon shifts in ultra-thin silicon film 尺寸效应对超薄膜拉曼应力应变诱导声子位移的影响
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期刊：Applied Physics Letters 作者：C. Pashartis; Michiel J. van Setten; Geoffrey Pourtois 出版日期：2025-01-13 |
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