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Plateau Voltage and Dynamic Capacitance Effect on SiC MOSFETs’ Gate Ringing 平台电压和动态电容对SiC MOSFET栅极振铃的影响
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Y. S. Lee; Hye-Min Kang 出版日期:2024-10-17 |
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