Study on Enhancing Electrostatic Discharge Stress Robustness of Flexible Thin-Film Transistors via Interface Modification

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标题	Study on Enhancing Electrostatic Discharge Stress Robustness of Flexible Thin-Film Transistors via Interface Modification 界面改性提高柔性薄膜晶体管静电放电应力鲁棒性的研究相关领域静电放电稳健性（进化）材料科学晶体管光电子学接口（物质）静电学薄膜晶体管压力（语言学）电子工程电气工程纳米技术复合材料电压工程类化学语言学哲学物理化学图层（电子）生物化学毛细管数毛细管作用基因
网址	https://doi.org/10.1109/ted.2024.3382670
DOI	10.1109/ted.2024.3382670 doi
其它	期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Yuxuan Shen; Yan Yan; Meng Zhang; Ye Zhou; Zhendong Jiang; et al 出版日期：2024-04-16
求助人	冷傲碧萱在 2025-08-16 18:06:19 发布自重庆，悬赏 10 积分
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