标题 |
Effects of GaN channel downscaling in AlGaN–GaN high electron mobility transistor structures grown on AlN bulk substrate
生长在AlN块体衬底上的AlGaN-GaN高电子迁移率晶体管结构中GaN沟道降尺度效应
相关领域
高电子迁移率晶体管
材料科学
光电子学
分子束外延
异质结
晶体管
透射电子显微镜
薄板电阻
电子迁移率
击穿电压
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期刊:Journal of applied physics 作者:Reda Elwaradi; Jash Mehta; Thi Huong Ngo; M. Némoz; Catherine Bougerol; et al 出版日期:2023-04-13 |
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