New Insights into TDDB in FinFET Based on Strain Analysis at the Atomistic Scale

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标题	New Insights into TDDB in FinFET Based on Strain Analysis at the Atomistic Scale 基于原子尺度应变分析的FinFET TDDB新见解相关领域随时间变化的栅氧化层击穿材料科学比例（比率）拉伤工程物理光电子学凝聚态物理电子工程统计物理学电气工程物理工程类栅氧化层晶体管医学量子力学电压内科学
网址	https://doi.org/10.1109/irps48204.2025.10983565
DOI	10.1109/irps48204.2025.10983565 doi
其它	期刊：作者：Zuoyuan Dong; Zixuan Sun; Lan Li; Zirui Wang; Changqing Ye; et al 出版日期：2025-03-30
求助人	画画的baby 在 2025-05-22 21:36:28 发布自上海，悬赏 10 积分
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