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![]() 有源布局上键合焊盘耗尽型GaN HEMT的动态开关行为和电场分布
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期刊:Semiconductor Science and Technology 作者:Lijian Guo; Feng Zhou; Weizong Xu; Fangfang Ren; Dong Zhou; et al 出版日期:2024-02-19 |
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