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 Influence of γ-ray irradiation on energy storage density and wake-up behavior of antiferroelectric Zr-doped HfO2 thin films γ射线辐照对反铁电Zr掺杂HfO2薄膜储能密度和唤醒行为的影响
相关领域
材料科学
辐照
反铁电性
兴奋剂
薄膜
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储能
复合材料
工程物理
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纳米技术
核物理学
热力学
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铁电性
工程类
物理
功率（物理）
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期刊：Materials Today Communications 作者：Yingfang Zhu; Qin Jiang; Dan Li; Hao Li; Yujie Wu; et al 出版日期：2025-08-13 |
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