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Benchmarking contact quality in N-type organic thin film transistors through an improved virtual-source emission-diffusion model 用改进的虚源发射扩散模型对N型有机薄膜晶体管接触质量进行基准测试
相关领域
接触电阻
材料科学
薄膜晶体管
晶体管
有机半导体
光电子学
薄膜
有机电子学
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工程类
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期刊:Applied Physics Reviews 作者:Nicholas J. Dallaire; Samantha Brixi; Martin Claus; Stefan Blawid; Benoît H. Lessard 出版日期:2022-02-22 |
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