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A Study on the Improvement of Etch Uniformity in an Ion Beam Etcher with a Magnetized Inductively Coupled Plasma Source 磁化电感耦合等离子体源提高离子束刻蚀均匀性的研究
相关领域
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期刊:Plasma Physics Reports 作者:Hee‐Woon Cheong; J.-W. Kim; K. Kim; H. Lee 出版日期:2021-03-01 |
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