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 Modeling of High-Current Polycrystalline Silicon Thin Film Transistors by Incorporating Buried Electrode 大电流多晶硅薄膜晶体管的埋电极建模
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期刊：Journal of Electronic Materials 作者：Peng Zhang; Emmanuel Jacques; Régis Rogel; Laurent Pichon; Olivier Bonnaud 出版日期：2022-07-28 |
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